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?    導(dǎo)致無極性電解電容出現(xiàn)爆漿原因分析？無極性電解電容爆漿的原因有很多，比方電流大于答應(yīng)的穩(wěn)波電流、運用電壓超出作業(yè)電壓、逆向電壓、頻頻的充放電等。可是直接的原因就是高溫。
    我們知道電容有一個重要的參數(shù)就是耐溫值，指的就是電容內(nèi)部電解液的沸點。當(dāng)電容的內(nèi)部溫度抵達(dá)電解液的沸點時，電解液開端歡騰，電容內(nèi)部的壓力升高，當(dāng)壓力逾越泄爆口的接受極限就發(fā)生了爆漿。所以說溫度是導(dǎo)致電容爆漿的直接原因。

    電容規(guī)劃運用壽數(shù)大約為2萬小時，受環(huán)境溫度的影響也很大。電容的運用壽數(shù)隨溫度的添加而減小，試驗證明環(huán)境溫度每升高10℃，電容的壽數(shù)就會折半。主要原因就是溫度加速化學(xué)反應(yīng)而使介質(zhì)隨時刻退化失效，這樣電容壽數(shù)終結(jié)。

    為了保證電容的穩(wěn)定性，電容在插板前要經(jīng)過長時刻的高溫環(huán)境的測驗。即使是在100℃，高質(zhì)量的電容也可以作業(yè)幾千個小時。一起，我們提到的電容的壽數(shù)是指電容在運用過程中，電容容量不會逾越標(biāo)準(zhǔn)規(guī)劃改變的10%。電容壽數(shù)指的是電容容量的問題，而不是規(guī)劃壽數(shù)抵達(dá)之后就發(fā)生無極性電解電容爆漿。只是無法保證電容的規(guī)劃的容量標(biāo)準(zhǔn)。

    所以，短時期內(nèi)，正常運用的板卡電容就發(fā)生爆漿的情況，這就應(yīng)該是屬電容質(zhì)量問題了。別的，不正常的運用情況也有或許發(fā)生無極性電解電容爆漿的情況。比方熱插拔電腦配件也會導(dǎo)致板卡部分電路電流、電壓的劇烈改變，然后引發(fā)電容運用缺點。